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Datum |
Name |
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Thema |
- Abschlußvortrag 60
Minuten
- Fortschrittssbericht
- Einführungsvortrag 30 Minuten
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13.04. |
Martin Keßler
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Ansätze der
Raster-Kraft-Mikroskopie zur Diagnose von RTO- und RTA-Prozessen an
Silizium-Wafern |
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20.04. |
Matthias Wellhöfer |
Orts- und
zeitaufgelöste Photolumineszenz am Materialsystem GaInAsP |
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27.04. |
Holger Schieferdecker |
Bestimmung
der Adhäsionseigenschaften von Oberflächen mit dem Rasterkraftmikroskop |
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04.05. |
Jörg Müller |
Raman
Spektren von Gläsern |
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11.05. |
Sabine Hild (Organisation) |
Kompaktkurs
"Molecular Imprinting" |
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18.05. |
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25.05. |
Alexander Bietsch |
Nanokontaktdruck
von Leiterbahnen und deren elektrische Charakterisierung mit
Rastersondenmikroskopie |
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01.06. |
Philipp Kröner
Reiner Clement |
MOMBE von
InGaAsP-Halbleitersystemen
Abschnittsweise Programmierung von Nickel-Titan
Gedächtnislegierungen |
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08.06. |
Andreas Boger |
Optische
und mechanische Eigenschaften von polymeren Lichtleiterfasern |
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15.06. |
Thomas Herzinger |
A:
Licht-Materie-Wechselwirkung bei gepulster Nd:YAG-Strahlung |
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22.06. |
Andreas Schmidt |
Untersuchung
von Phasenübergängen bei Polymeren mit Hilfe von optischer Spektroskopie
bei hohem Druck |
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29.06. |
Thomas Kresser |
Oberflächenspektroskopie
mit Hilfe von Plasmonenresonanzen |
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06.07. |
Peter Barth |
Strukturierung
von Si-Oberflächen mittel Mikrokontakt-Druck |
