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Untersuchung dünner dielektrischer SchichtenZiel dieses Projektes soll es sein, durch Ausnutzung der Plasmonenresonanz von Silber, den Brechungsindex und die Dicke dünner Polymerschichten zu bestimmen. Die Dicke der Polymerschichten bewegt sich dabei im Bereich bis 50 nm.Dazu wird auf ein Glasplättchen ein ca. 50 nm dicker Silberfilm aufgedampft. Dieser zeigt bei Bestrahlung mit Licht unter einem ganz bestimmten Winkel resonante Anregung von Oberflächenplasmonen und die Reflexion des Lichts wird vermindert. Aus der Lage und Form der Resonanzkurve der Reflexion kann die komplexe Dielektrizitätskonstante und die Dicke des Silberfilms ermittelt werden. Bringt man eine dielektrische Deckschicht auf den Silberfilm auf, so tritt eine Verschiebung der Plasmonenresonanz zu größeren Winkeln hin auf. Aus der Verschiebung läßt sich die Dicke der Deckschicht ermitteln.
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(c) Experimentelle Physik, Universität Ulm 04. Dezember 2001
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