Die Raster - Tunnel - Mikroskopie ist ein Beispiel einer Experimentiertechnik, die es erlaubt, Informationen über physikalische Eigenschaften von Oberflächen strukturen mit Abmessungen von etwa 1 μm bis hinunter in den Bereich der atomaren Abstände von 0,1 nm zu erhalten.
Um dies zu erreichen wird der piezoelektrische Effekt ausgenutzt und mit geeigneten rückgekopppelten elektronischen Schaltkreisen wird die Oberfläche in zwei Dimensionen abgerastert.
Die Meßgrößen liegen dann in Form von zweidimensionalen digitalisierten Meßreihen vor und müssen mit geeigneten Bildauswertemethoden bearbeitet werden.
Präparation von Spitzen aus Wolframdraht und/oder Pt-Ir Draht.
Untersuchung eines metallischen Gitters mit den angefertigten Spitzen bei niedriger Auflösung.
Steigern Sie die Auflösung bis zu Werten von etwa 30 nm.
Aufnahmen von Bildern mit einer Scan-Länge von 3 nm.
Untersuchen Sie eine HOPG (Hoch Orientierter Pyrolytischer Graphit) -Oberfläche beginnend bei einer Vergrößerung von etwa 30 nm, steigern Sie dann die Auflösung bis in den subatomaren Bereich.
Falls noch Zeit vorhanden ist, untersuchen Sie eine Molybdän - Sulfid -Probe.
Die am 1. Versuchstag erhaltenen Bilder werden mit den zur Verfügung stehenden mathematischen Filtermethoden bearbeitet und die jeweiligen Veränderungen diskutiert und mit Hilfe von Beispielen dokumentiert.